1) X-ray diffraction analysis
X衍射分析
1.
X-ray diffraction analysis to the traditional sodium silicate G and modified sodium silicate 18# binding film has been d.
为什么会有这样的效果呢/为寻求问题的答案,我们对普通水玻璃G和改性水玻璃18#粘结剂膜进行X衍射分析。
2) XRD
X衍射分析
1.
In order to realize the changed color condition of Cave 85 at Mogao Grottoes, the color change of Cave 85 was studied by chroma meter and XRD.
为说明敦煌莫高窟第 85窟颜料目前所处的状态 ,用色度计和CIE1 976年表色系统进行选点监测 ,并进行X衍射分析。
3) X ray diffraction analysis
X-衍射分析
1.
) Karst Methods Individual constituent was isolated and repeatedly purified on silica gel column and structurally elucidated by the NMR spectra and X ray diffraction analysis Results Four compounds were obtained from the alcohol extract and identified as 3β oxo formyl 7β, 12β dihydroxy 4, 4, 14α trimethyl 5α chol 11, 15 dioxo 8 en (E) 24 oic acid (Ⅵ); 3β oxo formyl 7β, 12β dihydrox.
方法 利用各种色谱技术进行分离 ,主要采用一维、二维核磁谱及 X-衍射分析进行结构鉴定。
4) X-ray diffraction analysis
X射线衍射分析
1.
Change of macroscopic stress in ZnSe devices during the processing was determined by X-ray diffraction analysis.
用X射线衍射分析技术测定晶体器件在加工过程中宏观应力的变化。
2.
Talc powder in flour was determined by X-ray diffraction analysis(XRD) after isolation of flour with carbon tetrachloride or cineration at high temperature from 500℃ to 750℃.
通过四氯化碳分离或高温灰化,X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。
3.
X-ray diffraction analysis and differenti al thermal analysis(DTA)have been used to study the structure of Pd-20W alloy.
对Pd - 2 0W合金进行X射线衍射分析和差热分析 ,结果表明 :Pd - 2 0W合金是面心立方固溶体 ,合金的晶格点阵参数和晶粒大小随着温度的变化而变化 ,在温度缓慢下降至 75 0℃时出现了超结构转变。
5) X-ray diffraction
X射线衍射分析
1.
X-ray diffraction (XRD) program was improved.
同时,简要介绍运用X射线衍射分析判断新相生成并对其进行表征,探讨制备条件对组成结构的影响,推测反应机理及解决生产中的问题,为制备合格材料提供依据。
2.
Multi-anvil apparatus and X-ray diffraction technology were used to investigate the phase transformation of synthesized NaAlSiO_(4) over a temperature range from 1200 to 2000 ℃ and a pressure range from 22 to 25 GPa.
采用多顶砧静态高温高压实验装置和X射线衍射分析方法研究了合成霞石NaAlSiO4在压力为22～25GPa,温度为1200～2000℃条件下的相变及其产物的晶体学特征,结合前人研究成果探讨了NaAlSiO4的高温高压相变过程和CaFe2O4型NaAlSiO4的稳定性及其地质意义。
3.
X-ray diffraction,including Bragg\'s equation in crystallography,the Fourier transform of helical structures,and Wilkins\' experimental determination of the double helix are discussed.
简述了薛定谔对基因物质的预言和德尔布吕克等人关于DNA是遗传物质的确定;介绍了DNA结构的X射线衍射分析,其中包括在X射线晶体学中的布拉格方程,螺旋结构的傅里叶变换,威尔金斯对双螺旋结构的实验验证;介绍了分子模型方法,其中包括键角与键长,杂化轨道理论,碳四面体型轨道的量子力学计算,在分子的空间构型中氢键的作用。
6) XRD
X射线衍射分析
1.
The XRD analysis of sample shown that the crystal-grain dimension, the diffraction peak intensity and the crystal lattice constant were affected by annealing time.
对以铟、锡氯化物为前驱物,采用溶胶-凝胶法制备的掺锡氧化铟薄膜(ITO膜)样品进行了X射线衍射分析,研究了热处理时间对ITO膜的影响,结果表明热处理时间影响ITO膜晶粒的大小、衍射峰的相对强度和晶格常数;热处理时间为15min时,ITO膜晶粒较大,衍射峰择优取向不明显,晶格畸变较小,此时ITO膜的方阻最小。
2.
The XRD analysis of sample showed that the diffraction peak intensity,the crystal lattice constant and crystal-grain dimension were affected by annealing temperature.
采用溶胶-凝胶法以铟、锡氯化物为前驱物制备不同热处理温度下的ITO膜,对制备的ITO膜样品进行X射线衍射分析。
补充资料：电子衍射分析
电子衍射分析
electron diffraction analysis
阵。X射线或电子束在晶体产生衍射往往用点阵平面反射这些射线束干涉增强来描述，一组点阵平面干涉加强对应一个衍射斑。点阵平面的三维周期性也反映在衍射斑构成的点阵中，称为倒易点阵。倒易点阵矢垂直于同名指数的晶体点阵平面，长度等于正空间点阵平面间距的倒数。电子衍射图与晶体衍射过程的几何关系见图。当波长为几的电子波以夕角掠射过晶体的(hkl)点┌─────┐│户\。_， ││只\、_洲产││户.碳岁.，│└─────┘ 电子衍射的几何构图说明阵平面时，可以把电子波想象为一个扩展在半径为1/几的球面上的反射球，口角符合布喇格衍射方程产生衍射的条件与倒易矢乱kI的端点落在半径为反射球面上的条件是等同的。即Zdsin口=几与K一K0=夙‘等价。这从几何关系冬}、}=}K}sin。很容易看出。即倒M“夕“’，/、月、2’0”三几’。111以‘卜叮叨目叫。”r曰易点hkl与反射球相截是晶体点阵平面产生衍射的充分而必要的条件。牛约为八劣的100倍，所以反射球面“hk王实际上非常接近平面，在电子衍射实验的角度范围内(约几度)，可以说反射球贴着倒易点阵平面。因此从图可看出，电子衍射图是倒易点阵平面的放大象。用L几=Rd表示，式中L称相机长度，是样品到纪录电子衍射图底片的有效距离，可从实验测定;义是电子波长，取决于加速电压;R是衍射图中hkl斑点到透射斑的距离;d是产生衍射的晶体点阵平面hkl的面间距。如果倾转晶体纪录下不同的倒易平面，就可以构造被测晶体的三维倒易点阵，进而晶体点阵的平移对称性、点阵单胞尺寸都可以通过电子衍射图对倒易点阵的测定而确定。 选区衍射在电子显微镜的电子衍射实验中，用物镜象平面上的视场光阑限定感兴趣的区域进行衍射分析，相当于在样品上选择分析区域。通常可获得1月m左右的选区衍射。但由于物镜球差的存在，当象平面上的视场光阑过于细小时，限场以外的晶体产生的衍射束仍可能进入最终纪录的衍射图，产生了衍射与选区不对应问题。由球差引起的衍射束位移与a=20的兰次方有关(a为衍射束与透射束的夹角)，即沙=Cs护，Cs是物镜的球差系数。如Cs=3 .3 mm，AI的444衍射束位移即达0.8召m。这时选区小于1月mZ的对应性就不好。已知Cs与波长几成反比，a与几成正比，所以占与几的平方成正比。所以提高电子波的加速电压，可减少选区的不对应程度，或可使用更小的选区光阑。选区电子衍射图基本上可分为环状与点状两类，分别对应多晶与单晶的衍射图。它们的标定与X射线衍射中的德拜相和劳厄相分析方法类似。
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参考词条