1) hard disk substrates
硬盘基板
1.
MgO-Al2O3-SiO2 glass ceramic is an excellent potential material for hard disk substrates with good mechanical properties,and it can essentially meet the requirements of hard disks with higher storage capacity and higher rotation speed.
MgO-A l2O3-SiO2系微晶玻璃是一种优良的磁盘基板备选材料,该材料具有良好的力学性能,能够满足高性能硬盘基板用材料的要求。
2) glass-ceramic substrate
硬盘微晶玻璃基板
1.
The influences of removal rate and surface roughness with structural characteristic of glass-ceramic substrates for hard disk drivers(HDD),polishing mechanism and process conditions were discussed.
计算机硬盘微晶玻璃基板的微观结构性能与化学成分都不连续,显微硬度非常高(900 kg/mm2~1 000 kg/mm2),难以获得亚纳米级光滑表面。
3) hard disk substrate
硬盘基片
1.
Then its CMP properties on hard disk substrate with nickel-phosphorous plated was studied.
进而研究了其在镍磷敷镀的硬盘基片CMP中的抛光特性。
2.
Chemical-mechanical polishing of hard disk substrate with nickel-phosphorous plated in the prepared nanometer SiO 2 slurry was studied.
制备了一种纳米SiO2 抛光液 ,并研究了镍磷敷镀的硬盘基片在其中的抛光性能 ,ChapmanMP2 0 0 0 +表面形貌仪测得抛光后表面的平均粗糙度 (Ra)和波纹度(Wa)分别为 0 0 5 2nm及 0 0 63nm ,为迄今报道的硬盘抛光的最低值。
3.
Chemical mechanical polishing(CMP)is widely used to obtain the atom-scale planarization surface in the manufacturing of computer hard disk substrate.
目前,普遍采用化学机械抛光(Chemical-mechanical polishing,CMP)技术对计算机硬盘基片(盘片)表面进行原子级平整。
4) hard magnetic disc substrate
硬磁盘基片
1.
In order to obtain the contact pressure distribution and its effect on the flatness errors of aluminum hard magnetic disc substrates,based on the lapping practices of the substrates,the elastic contact mechanical model and boundary conditions between the substrate and PVA fixed abrasive stones are established when the substrate is lapped.
目的为了获得铝质硬磁盘基片研磨过程中的接触压强分布对基片平面度的影响规律。
5) disk panel
磁盘基板
6) polymeric optical disk base
光盘基板
补充资料：硬盘的一些常用术语(S.M.A.R.T)
自动检测分析及报告技术（Self-MonitoringAnalysisandReportTechnology，简称（S.M.A.R.T）:
目前硬盘的平均无故障运行时间(MTBF)已达50000小时以上，但这对于挑剔的专业用户来说还是不够的，因为他们储存在硬盘中的数据才是最有价值的，因此专业用户所需要的就是能提前对故障进行预测的功能。正是这种需求才使S.M.A.R.T.技术得以应运而生。
现在出厂的硬盘基本上都支持S.M.A.R.T技术。这种技术可以对硬盘的磁头单元、盘片电机驱动系统、硬盘内部电路以及盘片表面媒介材料等进行监测，它由硬盘的监测电路和主机上的监测软件对被监测对象的运行情况与历史记录及预设的安全值进行分析、比较，当S.M.A.R.T监测并分析出硬盘可能出现问题时会及时向用户报警以避免电脑数据受到损失。S.M.A.R.T技术必须在主板支持的前提下才能发生作用，而且同时也应该看到S.M.A.R.T.技术并不是万能的，对渐发性的故障的监测是它的用武之地，而对于一些突发性的故障，如对盘片的突然冲击等，S.M.A.R.T.技术也同样是无能为力的。
目前硬盘的平均无故障运行时间(MTBF)已达50000小时以上，但这对于挑剔的专业用户来说还是不够的，因为他们储存在硬盘中的数据才是最有价值的，因此专业用户所需要的就是能提前对故障进行预测的功能。正是这种需求才使S.M.A.R.T.技术得以应运而生。
现在出厂的硬盘基本上都支持S.M.A.R.T技术。这种技术可以对硬盘的磁头单元、盘片电机驱动系统、硬盘内部电路以及盘片表面媒介材料等进行监测，它由硬盘的监测电路和主机上的监测软件对被监测对象的运行情况与历史记录及预设的安全值进行分析、比较，当S.M.A.R.T监测并分析出硬盘可能出现问题时会及时向用户报警以避免电脑数据受到损失。S.M.A.R.T技术必须在主板支持的前提下才能发生作用，而且同时也应该看到S.M.A.R.T.技术并不是万能的，对渐发性的故障的监测是它的用武之地，而对于一些突发性的故障，如对盘片的突然冲击等，S.M.A.R.T.技术也同样是无能为力的。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条