1) measurement of scattering field
散射场测量
2) near-field scattering measurement
散射近场测量
1.
Study on development trend of near-field scattering measurement theory;
散射近场测量理论发展动态研究
3) Monostatic planar near-field scattering measurements
单站平面近场散射测量
4) scattering measurement
散射测量
1.
Effects of system imperfection on polarization scattering measurement of distributed targets;
系统误差对分布目标极化散射测量的影响
2.
The joint effect of nonlinear response characteristics and transmitting power fluctuation on scattering measurement is analyzed.
分析了非线性响应特性和发射功率波动对散射测量的联合效应,以及单独的散射测量在这种联合效应作用下产生误差的原因。
3.
This paper generalizes the normal polarimetric calibration model,and evaluates effects on full polarization scattering measurement of a point target from amplitude and phase inbalance of polar channels,crosstalk of antenna,Faraday rotation,target orientation error,interference and noise from system and environment.
在此基础上,评估了极化通道幅相不平衡、天线串扰、法拉第旋转、指向误差角、干扰和系统环境噪声对点目标全极化散射测量的影响,并考虑科学研究和应用需求对上述参数的约束条件,从而得到对极化合成孔径雷达系统设计和极化定标有参考价值的结论。
5) scatterometry
散射测量
1.
To break the limitation of traditional methods and provide robust and non-destructive measurement solution for the nano-scale profiles in the wafer fabrication,scatterometry base optical profile measurement has been developed rapidly and already implemented in most advanced fabs.
为了解决CD-SEM等方法所面临的局限性,以及提供强有力的晶圆纳米级轮廓检测方案以满足生产的需求,基于散射测量法(Scatterometry)的光学轮廓测量得到了迅猛发展,其成为了很多国际化生产厂的重要CD兼轮廓测量的手段。
6) Raman scattering measurement
Raman散射测量
补充资料：自治场多重散射波Xα方法
分子式：
CAS号：
性质：用于分子计算的Xα方程。在Xα方程基础上采用松饼罐头(muffin-tin)近似，将分子分为三个区：原子内区I，原子间区II和原子外区III，进而对其势能采取近似，然后根据Xα方程分别对三个区域利用边界条件建立久期方程并求解，从而得到分子轨道和能级。该方法计算简单，用过渡态概念计算的结果和能谱数据接近，而且适于原子簇的计算。但是其计算精度比从头算差，对共轭分子计算也不理想。
CAS号：
性质：用于分子计算的Xα方程。在Xα方程基础上采用松饼罐头(muffin-tin)近似，将分子分为三个区：原子内区I，原子间区II和原子外区III，进而对其势能采取近似，然后根据Xα方程分别对三个区域利用边界条件建立久期方程并求解，从而得到分子轨道和能级。该方法计算简单，用过渡态概念计算的结果和能谱数据接近，而且适于原子簇的计算。但是其计算精度比从头算差，对共轭分子计算也不理想。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条