1) consumption of compact spinning element
集聚元件损耗
2) Nesting Element
集聚元件
3) semiconductor losses
半导体元器件损耗
4) dead end loss
空匝损耗，死元件损耗(线圈的)
5) collector dissipation
集极损耗
6) consumable accessories
耗损件
补充资料：介质损耗角正切试验(见电容率与损耗因数试验)
介质损耗角正切试验(见电容率与损耗因数试验)
dielectric loss tangent test
)!eZh.sunhooJ一002匕engq一e sh一yon介质损耗角正切试验(dieleetri。1055 tangenttest)见电容率与损耗因数试验。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条