1) AFM tip scratching

AFM探针刮擦
3) AFM probe

AFM探针
1.
This characteristic of etching processes will bring about some technical difficulties in fabricating AFM probe and reduces the realizable number of silicon tip per .
如此高的削角速率会给AFM探针的制作带来技术上的困难。
4) Atomic force microscope tip

AFM针尖
补充资料:刮擦
1.牵连。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条