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1)  AFM tip scratching
AFM探针刮擦
2)  tip scratching
探针刮擦
3)  AFM probe
AFM探针
1.
This characteristic of etching processes will bring about some technical difficulties in fabricating AFM probe and reduces the realizable number of silicon tip per .
如此高的削角速率会给AFM探针的制作带来技术上的困难。
4)  Atomic force microscope tip
AFM针尖
5)  gride [英][graid]  [美][graɪd]
擦刮
6)  scraping [英]['skreɪpɪŋ]  [美]['skrepɪŋ]
刮擦
补充资料:刮擦
1.牵连。
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参考词条