1) X ray diffractometer data collecting and analyzing system
X射线衍射仪数据采集与分析系统
2) property and X ray powder diffraction data
物性与X射线衍射数据
3) data of X-ray diffraction
X射线衍射数据
1.
On the normal expression of data of X-ray diffraction in sci-techpapers;
科技论文中X射线衍射数据的规范表达
4) data collection and analysis system
数据采集与分析系统
1.
In this paper, a very simple micro computerized upgrading method for old model x ray diffractometer, as well as its data collection and analysis system (XRDS) are recommended.
介绍一种十分简单的旧型号X射线衍射仪微机化的升级改造技术以及相应的数据采集与分析系统(XRDS)。
5) X-ray diffraction analysis
X射线衍射分析
1.
Change of macroscopic stress in ZnSe devices during the processing was determined by X-ray diffraction analysis.
用X射线衍射分析技术测定晶体器件在加工过程中宏观应力的变化。
2.
Talc powder in flour was determined by X-ray diffraction analysis(XRD) after isolation of flour with carbon tetrachloride or cineration at high temperature from 500℃ to 750℃.
通过四氯化碳分离或高温灰化,X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。
3.
X-ray diffraction analysis and differenti al thermal analysis(DTA)have been used to study the structure of Pd-20W alloy.
对Pd - 2 0W合金进行X射线衍射分析和差热分析 ,结果表明 :Pd - 2 0W合金是面心立方固溶体 ,合金的晶格点阵参数和晶粒大小随着温度的变化而变化 ,在温度缓慢下降至 75 0℃时出现了超结构转变。
6) X-ray diffraction
X射线衍射分析
1.
X-ray diffraction (XRD) program was improved.
同时,简要介绍运用X射线衍射分析判断新相生成并对其进行表征,探讨制备条件对组成结构的影响,推测反应机理及解决生产中的问题,为制备合格材料提供依据。
2.
Multi-anvil apparatus and X-ray diffraction technology were used to investigate the phase transformation of synthesized NaAlSiO_(4) over a temperature range from 1200 to 2000 ℃ and a pressure range from 22 to 25 GPa.
采用多顶砧静态高温高压实验装置和X射线衍射分析方法研究了合成霞石NaAlSiO4在压力为22～25GPa,温度为1200～2000℃条件下的相变及其产物的晶体学特征,结合前人研究成果探讨了NaAlSiO4的高温高压相变过程和CaFe2O4型NaAlSiO4的稳定性及其地质意义。
3.
X-ray diffraction,including Bragg\'s equation in crystallography,the Fourier transform of helical structures,and Wilkins\' experimental determination of the double helix are discussed.
简述了薛定谔对基因物质的预言和德尔布吕克等人关于DNA是遗传物质的确定;介绍了DNA结构的X射线衍射分析,其中包括在X射线晶体学中的布拉格方程,螺旋结构的傅里叶变换,威尔金斯对双螺旋结构的实验验证;介绍了分子模型方法,其中包括键角与键长,杂化轨道理论,碳四面体型轨道的量子力学计算,在分子的空间构型中氢键的作用。
补充资料：X射线衍射仪
利用计数器来收集晶体衍射方向和衍射强度数据，进行物相鉴定或晶体结构分析的仪器（图1）。有多晶X射线衍射仪和单晶四圆 X射线衍射仪。X射线衍射仪由X射线发生器、测角仪和探测记录系统等 3部分组成（图2）。其工作原理是：粉末样品经一束平行的单色 X射线垂直照射后，产生一组以入射线为轴的同轴反射圆锥面族，计数管绕样品旋转,依次测量各反射圆锥面2θ角（即衍射角，又称布喇格角）位置的衍射线强度，即可获得表征物相的各种衍射数据，从而进行物相鉴定和晶体结构的研究。 X射线衍射仪是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析，还可确定类质同象混晶（固溶体）的成分，有限固溶体的固溶极限，区分晶质和非晶质结构的变化。测定晶体的有序－无序结构及其有序度，以及粘土矿物的混层结构等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条