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1) BIST
内建自检测
1.
We expound the techniques ,structure and principle of BIST.
阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并介绍其在Memory单元电路中的实现过程。
2) BIST
内建自测
1.
A Multi-frequency BIST IP Core with Scan Chain for Embedded Register File;
适用于嵌入式五口SRAM的多频率内建自测电路
2.
An approach for FPGA(Field Programmable Gate Array) testing logic cells based on BIST(Built-In Self-Test) is presented.
给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。
3.
A reseeding BIST scheme with variable lengths of test sequences is proposed in this paper.
本文提出一种变长序列重复播种的内建自测试方案,该方案使用重复播种技术,每个种子所产生的伪随机测试向量的序列长度不同。
3) BIST
内建自测试
1.
Design of Programmable Memory BIST for Embedded Dual Ports SRAM;
嵌入式双端口SRAM可编程内建自测试结构的设计
2.
Embedded Flash Memory BIST For System-on-a-Chip;
SoC嵌入式flash存储器的内建自测试设计
3.
An All-Digital BIST Scheme for the ADC Test;
全数字的模数转换器内建自测试方案
4) built-in self test
内建自测试
1.
Implementation of quadratic orthogonal demodulation and built-in self test
二次正交解调算法及内建自测试的实现
2.
Aiming at the mixed-signal circuit testing,an integrated built-in self test(BIST) architecture for testing on-chip high speed ADC was presented.
针对混合信号电路的测试问题,提出了一种内建自测试(BIST)结构,分析并给出了如何利用该结构来计算片上高速模数转换器(ADC)的静态参数。
3.
The built-in self test(BIST)method for IP core and the design method for test-oriented IP core are introduced.
介绍了用于IP核测试的内建自测试方法(BIST)和面向测试的IP核设计方法,指出基于IP核的系统芯片(SOC)的测试、验证以及相关性测试具有较大难度,传统的测试和验证方法均难以满足。
5) Build-in self-test
内建自测试
1.
The principle of the SRAM build-in self-test achieving and some advanced algorithms of march are analyzed in details and a typical design method of SRAM BIST is introduced by designing BIST circuits of 16k×32bit SRAM and is implemented on the Altera-EP1S25.
文中介绍了SRAM的典型故障类型和几种常用的测试方法,同时详细分析了嵌入式SRAM存储器内建自测试的实现原理以及几种改进的March算法,另外,以16k×32bitSRAM为例,给出了SRAM内建自测试的一种典型实现,并在Altera-EP1S25上实现。
2.
As a new method of design for testability build-in self-test can prominently improve the testability of the circuits.
内建自测试作为一种新的可测性设计方法,能显著提高电路的可测性。
6) built-in self-test
内建自测试
1.
The Research on Low Power Built-in Self-test Design;
低功耗内建自测试设计方法研究
2.
Study on Built-In Self-Test Methodology for Fault Diagnosis of Mixed-Signal Circuits;
混合信号电路故障诊断的内建自测试（BIST）方法研究
3.
A low power test approach for test or built-in self-test based on arithmetic additive generator is proposed in this paper.
本文提出了一种基于算术加法生成器的测试或内建自测试的低功耗测试方法。
补充资料：Imageware完善的自由形状建模和检测技术
新闻摘要:Imageware完善的自由形状建模和检测技术 Imageware产品在以下领域提供建模和应用驱动的解决方案： 自由形状产品设计、快速曲面、高质量曲面、逆向工程、计算机辅助校验、多边形建模、快速原型等，使客户能够在很短的时间内精确地设计建立和全面检验高质量的自由形状产品。 5天 基本模块Imageware Surfacing是一个功能强大的、
Imageware完善的自由形状建模和检测技术 → Imageware产品在以下领域提供建模和应用驱动的解决方案： 自由形状产品设计、快速曲面、高质量曲面、逆向工程、计算机辅助校验、多边形建模、快速原型等，使客户能够在很短的时间内精确地设计建立和全面检验高质量的自由形状产品。  Avalon Engineering设计的运动沙龙概念车模型，数字曲面初始设计用时1.5天 基本模块Imageware Surfacing是一个功能强大的、直观的曲面创建工具,可以直接创建由测量点、曲线、曲面形成的的自由曲面。柔性设计环境支持Bezier和NURBS曲面。动态曲面修改工具能够交互检测和变更设计，实时表现设计的含义和美感。建立工具提供从快速到高质量曲面的任意形状的功能，包括汽车Class A需要的高精确和平滑的曲面。有效的连续和约束管理工具使曲面到曲面连接的曲率连续。
实时诊断提供全面的质量分析工具，这些工具是鉴别表面曲率的仪器，加亮显示检测到的曲面瑕疵、偏离和不完整。Imageware数字检验工具包括加工性检查、分离线和曲面间隙，能够在数据提供给后续过程之前鉴别出设计缺陷。 
Modality Design的Ski binding从概念到分析 第2个基本模块Imageware Inspection是一个通用和容易使用的3D测量系统，用于比较物理零件和相应的理想CAD模型。偏离检查用图形和文字报告方式表现结果，报告可以用PDF格式在企业web网页上共享。此外，还提供工具处理光学检测点和离散的CMM测量数据。点处理使用户可以清除、采样、过滤、合并、交叉截面、偏置、投影点集、提取点和计算临界特征及边的尺寸。这在目前通过光学扫描仪采集的数百万点数据的处理时非常有效。 使用Imageware多边形建模工具从概念到制造的Jaguar X type hood
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条
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