1) near IR laser altimeter
近红外激光高度计
2) near infrared laser
近红外激光
1.
A detection method for obtaining the micro bulk defect size in semiconductive materials by analyzing near infrared laser scattering light distribution is presented.
提出了利用近红外激光散射光强分布分析来检测半导体材料内部微体缺陷的检测方法。
3) near infrared laser camouflage
近红外激光隐身
4) near ir laser
近红外线激光器
5) near infrared laser
近红外激光器
6) UV/VIS/NIR Spectrophotometer
紫外可见近红外分光光度计
补充资料：高度计
利用气压、雷达等来测量高度的仪表，常用于航空和登山。也叫高度表。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条