1)  Infrared scene projector
					
	
					
				
				
	
					
				红外景象模拟器
				1.
					The infrared scene projector is the critical testing equipment of the hardware-in-loop simulation system for the infrared control and guide system, and its characteristic is related the reliability of the hardware-in-loop simulation experiment.
						
						红外景象模拟器是检验红外制导系统性能的半实物仿真试验系统的关键设备,其性能关系到半实物仿真试验的可信度。
					
					2)  IR target/background simulator
					
	
					
				
				
	
					
				红外目标/背景模拟器
			
					3)  Infrared scene simulation
					
	
					
				
				
	
					
				红外场景模拟
				1.
					Infrared scene simulation with image based rendering technique;
					
					
						
						
					
						基于图像绘制技术的红外场景模拟
					
					4)  The Infrared Scene Generator
					
	
					
				
				
	
					
				红外景象产生器
			
					5)  infrared target simulator
					
	
					
				
				
	
					
				红外目标模拟器
				1.
					Review of infrared target simulator calibration system and its applications;
					
					
						
						
					
						红外目标模拟器校准系统研究与分析
					2.
					Based on quick response performance and insensitivity to variation of plant parameters and external disturbance of the variable structure control, a variable structure controller with sliding mode (SMC) is designed for the separating-mirror servo system of infrared target simulator.
						
						针对红外目标模拟器中分离镜伺服系统的抗干扰控制问题,本文利用变结构控制响应快速,对系统参数变化和外部扰动不灵敏的特点设计了一个滑模变结构控制器。
					3.
					The ap- paratus for measuring infrared target simulator was constructed in author s lab by using standard IR Spec- tro radiometer.
						
						文章论述了红外目标模拟器校准系统在航天、航空、国防、军事及国民经济各领域中的重要作用和意义,综述了近年来测量技术的研究发展现状。
					
					6)  IR Dummy Detector
					
	
					
				
				
	
					
				红外模拟探测器
				1.
					Study on IR Dummy Detector;
					
					
						
						
					
						红外模拟探测器研究初探
					补充资料:多元红外探测器
		      由多个单元红外探测器按一定规则排列而成的线列或面阵器件,有时也称为多元阵列器件。多元探测器可由光电导探测器或光伏探测器组成,也可以由热释电型探测器组成,主要用于红外成像系统。利用光刻、离子蚀刻等半导体工艺技术,可在组分均匀、结构完整的单片半导体材料上制成一维线列或二维面阵,或以其他几何方式排列的多元探测器。也可以用镶嵌的方式制成多元探测器。常用的多元探测器的形状有6×8二维面阵、20元竖线列阵和16元横线列阵。采用多元探测器的优点是:①提高成像系统的信噪比。如采用n元探测器线列器件实行并扫,则成像系统的信噪比可比使用单元探测器提高倍;②降低对探测器性能的要求。由于探测器元数增加而扫描一幅图像的时间不变,像元在每个敏感元上的滞留时间可增加到单元器件的n倍,从而使一些响应时间较长的探测器能得到应用;③降低成像系统的扫描速度,简化扫描机构。当多元面阵器件的元数与像元数相等时(即"凝视"器件),成像系统可免去机械扫描机构。
         
		
		说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
	参考词条