1) holographic grating spectroscopy technology
全息光栅分光技术
2) laser-induced holographic grating hole-burning technology
激光诱导全息光栅技术
3) holographic grating
全息光栅
1.
The estimate of the refractive index modulation of phase holographic grating;
对位相全息光栅折射率调制度的估算
2.
Applications of holographic grating in optical test;
全息光栅在光学测量中的应用
3.
Study on novel sensor for getting fingerprint image with holographic grating;
新型全息光栅指纹传感器的研究
4) holographic gratings
全息光栅
1.
Through analysis of the readout process of a volume holographic gratings, the photoconductivity of a Cu: KNSBN crystal was presented to be σph = 3.
通过分析体全息光栅的读取过程,得到光折变晶体Cu:KNSBN的光电导在入射光强为5×104W/m2时的典型值为σph=3。
2.
Based on the important station of holographic grating in information optic and spectrometer,the theoretical analysis of holographic gratings and a new experimental system of making holographic gratings were presented in this paper.
基于全息光栅在信息光学及光谱仪中的重要地位,对全息光栅进行了理论分析,提出了一种新的制作全息光栅的实验系统。
3.
WT5BZ]In light of the manufacturing principles of holographic diffraction gratings, the paper presents a main method of manufacturing the holographic gratings.
从全息衍射光栅的制作原理出发 ,介绍了全息光栅的主要制作方法 ,并与刻划光栅对比分析了全息衍射光栅的诸多优点。
5) holographic lithography
激光全息技术
1.
Fabrication of photonic crystals with different surface orientation by holographic lithography;
用单向光入射和单次曝光的激光全息技术制作了类金刚石结构,此类金刚石结构有宽完全带隙和低介质折射率要求等优点。
6) Holographic lithography technique
全息光刻技术
补充资料：长度计量技术：光栅测长技术
利用光栅產生的莫尔条纹测量位移和轮廓形状等的长度计量技术。测量位移时﹐将计量光栅副中的光栅尺和指示光栅分别固定在长度测量工具或机床等的移动件(例如滑架)和不动件(例如机床导轨)上。两者相隔一个很小的间隙(一般为 0.05～0.1毫米)。当滑架移动时﹐出现在光栅副上的莫尔条纹的週期性光强变化﹐通过光电转换元件转换为正弦波形电信号﹐经放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分后即可得出光栅位移量。由光源﹑计量光栅副和光电转换元件等组成的部件称为光栅式长度传感器。由光栅式长度传感器和放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分组成的系统称为光栅测量系统(见图 光栅测量系统 )
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。 说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条