1) static test power optimization
静态测试功耗优化
2) dynamic test power optimization
动态测试功耗优化
3) static power optimization
静态功耗优化
1.
A novel dynamic threshold static power optimization algorithm is presented.
提出了一种双阈值电压的动态门限静态功耗优化算法。
4) standby power
静态功耗
1.
The paper analyses the standby power dissipation of standard SRAM 6-T cells.
为了解决存储单元的亚阈值泄漏电流问题,分析了在深亚微米下静态随机存储器(SRAM)6-T存储单元静态功耗产生的原因,提出了一种可以有效减小SRAM静态功耗浮动电源线的结构,并分析在此结构下最小与最优的单元数据保持电压;最后设计出SRAM的一款适用于此结构的高速低功耗灵敏放大器电路。
2.
As technology evolves, the threshold voltage will be re- duced accordingly, which results in an exponential increase of standby power.
随着工艺的发展,器件阈值电压的降低,导致静态功耗呈指数形式增长。
5) static power
静态功耗
1.
The static power exceed the dynamic power in microprocessors as the feature size shrinks,especially for on-chip L2 caches.
随着集成电路制造工艺进入超深亚微米阶段,静态功耗在微处理器总功耗中所占的比例越来越大,尤其是片上二级Cache。
2.
Simulation results prove that active power of proposed Zipper CMOS full-adder can be reduced by up to 37%,5% and 7%,and static power can be reduced by up to 41%,20% and 43% as compared to the standard,the dual threshold voltage,and the multiple supply Zipper CMOS domino full-adder under similar delay time,respectively.
仿真结果表明,在相同的时间延迟下,与标准Zipper CMOS多米诺全加器、双阈值Zipper CMOS多米诺全加器、多电源电压Zipper CMOS多米诺全加器相比,新型Zipper CMOS多米诺全加器动态功耗分别减小了37%、35%和7%,静态功耗分别减小了41%,20%和43%。
6) test power
测试功耗
1.
With the development of VLSI manufacture technology and the higher integration degree, test power consumption has become one of the main concerns of IC designers.
基于扫描结构的数字集成电路,学术界已提出了许多方法降低该电路的测试功耗,本文对此方面的研究进行综述。
2.
There are three serious problems: These are test application time, test data volume, and test power consumption.
其中比较严重的问题有三个:它们分别是测试时间、测试数据量和测试功耗。
3.
As CMOS device dimensions have been down to the very deep-submicron, test power is higher than the power produced in circuit s work period.
随着CMOS器件进入超深亚微米阶段,测试时产生的功耗比系统正常工作时的功耗高很多,测试功耗正逐渐成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点。
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条