1) long optical flat
长平晶
1.
The application of sub-aperture stitching in long optical flat was researched.
研究子孔径拼接在长平晶测试中的应用。
2) average length of grain
晶粒平均长度
1.
A method for determining the number of grain and the average length of grain in polysilicon resistor is given.
提出了一种基于实测伏安特性确定多晶硅电阻中晶粒数及晶粒平均长度的方法。
3) optical flat
平晶
1.
The principle of judgement method by compression analysis of optical flat surface shape and discussion on application
平晶表面形状加压分析判断法的原理与应用探讨
2.
When flatness of optical flat is measured,temperature not only influences flatness value of optical flat,but also directly influences its surface form judgement.
在测量平晶工作面的平面度时,温度不仅对平晶平面度的大小有影响,而且直接影响对平晶表面形状(凹凸)的判断。
4) plane-parallel crystal
平面平晶
5) Changchun-siping railroad area
长平
1.
This paper has analyzed the nature resource advantage, expatiated the situation of maize production and consumption, discussed the advantages of science and technology resource and process techniques in Changchun-siping railroad area, and put forward the countermeasure to solving contradiction of maize supply and demand finally.
分析了长平玉米产业带自然资源优势,阐述了玉米生产与消费现状和科技资源及加工技术优势,提出解决玉米供求矛盾的对策。
6) crystal growth
晶体生长
1.
The fractal behavior of interfacial structure of crystal growth on the basis of the true self-avoid walk model;
真实自回避行走中晶体生长界面结构的分形行为
2.
Stability analysis of the planar interface for crystal growth in undercooled pure melts;
过冷纯熔体中晶体生长平界面的稳定性分析
3.
Study on crystal growth kinetics for SrSO_4;
硫酸锶晶体生长动力学研究
补充资料：平晶
具有两个（或一个）光学测量平面的正圆柱形或长方形的量规。光学测量平面是表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面，它能够产生光波干涉条纹（见激光测长技术）。平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，图1a为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的，用于测量两高光洁表面的平行度误差，例如千分尺两测量面的平行度误差（图1b）。平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。圆柱形平面平晶的直径通常为 45～150毫米。其光学测量平面的平面度误差为:1级精度的为0.03～0.05微米；2级精度的为0.1微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。
平晶是利用光波干涉现象测量平面度误差的，故其测量方法称为平晶干涉法（图2）,也称技术光波干涉法。测量时,把平晶放在被测表面上,且与被测表面形成一个很小的楔角 θ，以单色光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表面间的间隙很小,则由平晶测量面P反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P发生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白光下，则出现彩色干涉条纹。如干涉条纹平直，相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表示平面度不好。其误差值为，式中a为两干涉条纹间距离，b为干涉条纹的弯曲值,λ为光波波长，白光波长一般以0.6微米计算。
平晶是利用光波干涉现象测量平面度误差的，故其测量方法称为平晶干涉法（图2）,也称技术光波干涉法。测量时,把平晶放在被测表面上,且与被测表面形成一个很小的楔角 θ，以单色光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表面间的间隙很小,则由平晶测量面P反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P发生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白光下，则出现彩色干涉条纹。如干涉条纹平直，相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表示平面度不好。其误差值为，式中a为两干涉条纹间距离，b为干涉条纹的弯曲值,λ为光波波长，白光波长一般以0.6微米计算。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条