1) F_DS Far-end Defect Second
远端缺陷秒
2) N_DS Near-end Defect Second
近端缺陷秒
4) DS Defect Second
缺陷秒
5) Higher order path remote defect indication(HP-RDI)
高阶通道远端缺陷指示
6) Lower order path remote defect indication(LP-RDI)
低阶通道远端缺陷指示
补充资料:点缺陷(见晶体缺陷)
点缺陷(见晶体缺陷)
point defect
点缺陷point defeet见晶体缺陷。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条